尼康显微镜DIC显微镜组件对齐

 适当的调整和微分干涉对比 （DIC） 光学组件的对齐方式是至关重要的成像性能，所以必须显微镜技术人员认识到失调和组件不匹配，并采取必要的步骤，纠正这些错误。此交互式教程检查锥光和鲜明 viewfields 在 DIC 显微镜下各种构型的图案，并讨论了很多的建议令人满意的显微镜对齐方式的重要方面。

本教程使用初始化虚拟 DIC 显微镜置于锥光查看模式 （模拟虚拟相位差望远镜或贝特朗 · 镜头），并只起偏振器和分析仪 （传输轴交叉） 插入到光学通路。此外，聚光镜隔膜已封闭，禁止它的 80%在初始化时Zui大光圈大小。要运行本教程中，第一选择 DIC 技术，要么得无以复加，要么de Sénarmont，从左侧的视区定位的成像模式收音机按钮的设置。下一步，物镜从的菜单中选择物镜放大拉下 （默认是 10 x）。请注意当选择了一个新的物镜，在显微镜视区中观察到的聚光镜孔径光阑的大小增加或按比例减小。使用聚光镜隔膜滑块来改变孔径光阑的开放大小。

若要安装在光学火车得无以复加棱镜，使用物镜棱镜或聚光镜棱镜的单选按钮。这些单选按钮中的一个选择时，视区显示一个单一的得无以复加棱镜，大小取决于物镜的选择各不相同的锥光形象。如果已选择的物镜棱镜，滑块将更改显示文本：物镜棱镜平移，当在显微镜中得无以复加模式或偏振片方向当显微镜是在de Sénarmont模式。如果已选取了聚光镜棱镜，偏光片定位文本时将显示显微镜是在de Sénarmont模式中，但将灭活滑块，当显微镜是在模式中得无以复加。

在得无以复加或de Sénarmont影像模式中，可以利用滑块来改变引入光学火车偏置迟缓。在得无以复加模式 （仅当选择时物镜棱镜） 中，物镜棱镜平移滑块Zui初是在中央的位置与添加任何偏见。平移的滑块向右介绍负偏压，同时滑块向左移动的中心产生积极的偏见。本教程操作，以相同的方式在de Sénarmont模式中，除了可以选择任一棱镜，和偏光片定位滑块也指示的偏光片从中央位置旋转度数数。

要向虚拟的 DIC 显微镜光学火车添加两个棱镜 （聚光镜和物镜），在得无以复加或de Sénarmont的成像模式中选择两个棱镜的单选按钮。然后可以使用物镜棱镜平移（得无以复加模式） 或偏振方向（de Sénarmont 模式） 滑块调整偏置。若要添加一阶补偿板光学通路，补偿器复选框中放置一个复选标记。在上文所讨论的所有情况下，虚拟的 DIC 显微镜可以放在鲜明的模式，通过选择Orthoscopic单选按钮。视区然后将揭示时虚拟的贝特朗 · 镜头从光学通路中删除视野的显示。

微分干涉对比显微镜对齐方式

在尝试配置在微分干涉对比显微镜观察、 检查仪以确定是否所有必需的组件都是之前目前，和免费的皮棉、 灰尘和碎片。物镜和聚光镜镜头包含元素，应力签名可降解性血管内凝血，图像作为透镜表面，划痕和污染外国材料中的光通路可以弄脏。显微镜的正确对齐是实现Zui佳效果和产生的图像显示伪三维和阴影铸的影响至关重要。许多在以下步骤中概述的步骤是不仅必要时第一次调整显微镜的 DIC，不需要重复进行日常观测。显微镜用于 DIC 调查每次应采取其他步骤。

初步的显微镜检验-检查显微镜仔细地确保 DIC 的所有必要组件都已安装，或可用并准备使用在必要的时候。卸下聚光镜、 拆卸炮塔，并检查得无以复加或渥拉斯顿棱镜的条件。这些复合棱镜的表面应清洁，无灰尘和碎屑。因为他们住在聚光镜炮塔内，DIC 聚光镜棱镜很少沾染指纹，但灰尘和皮棉可以容易地流入的炮塔和土地平坦石英表面之一上。要清洁受污染的棱镜表面，使用橡胶气球删除松散的纤维和尘土，和/或轻轻擦拭表面，用镜头薄纸或湿软棉。小心不要划伤表面。同样的待遇应给予物镜的棱镜、 聚光镜和物镜外部透镜元件、 显微镜目镜透镜，物镜显微镜的基础领域隔膜口岸 （或附加到倒置显微镜下观察的支柱）。后确保关键部件的清洁，重新组装显微镜、 安装偏振器和分析仪，然后对齐用于科勒照明的光学系统。

安装偏振镜和分析器-用显微镜拆卸 （聚光镜、 DIC 棱镜和至少一个物镜中删除），安装起偏振器和分析仪在他们的立场下聚光镜及以上物镜，分别。方式类似于偏光显微镜、 偏光片和分析仪定位所以他们传输方位角交叉在一个 90 度的角 （垂直） 到另一个。偏光片，装入的光源和聚光镜之间，传统上是面向在东-西部方向，或左到右，当面临在显微镜。在某些情况下，偏光片和分析仪的位置预先确定的由它们固定的位置，在安装帧中，和这些组件只可插入显微镜光学通路与单一的取向。通常上偏光片山, 的一个标记指示的传输方向，但一些显微镜均配备毕业于度旋转偏振片山。该分析仪也可能与毕业的旋钮，可旋转和/或可能包含一个标记，指示传输轴。

当交叉偏振器和分析仪 （传输轴面向在一个 90 度的角），人学视域出现很暗，当通过目镜观察到。这种情况称为Zui大的物种灭绝。如果大量的光通过显微镜和人学视域不是黑暗的 （或几乎是黑色的），交叉检查，以确保起偏振器和分析器。穿过偏光片后, 插入的聚光镜和物镜，但不要安装物镜得无以复加棱镜滑块 （或固定的架）。旋转到明视场位置的聚光镜塔 （缺乏相位板或 DIC 棱镜的插槽）。人学视域应保持黑暗，但如果这些组件 （聚光镜或物镜） 的任一包含紧张的镜头元素，一些光可能会通过。移除其中一个偏振光学元件从光学火车 （偏光片或分析仪） 之前的下一步。

建立科勒照明-在 DIC 配置 （后偏振器安装） 之前，显微镜光学系统应对齐明视场观察标本观察使用标准的科勒技术。正确配置时，光源 （通常卤钨灯） 的图像应该由收藏家镜头安置在灯箱或沿光学显微镜框架基地内火车预计聚光镜孔径隔膜平面上。同时，透镜系统的聚光镜也项目领域隔膜的图像成标本共轭平面 （在显微镜的阶段）。后灯灯丝已为中心 （大多数现代 lamphouses 包含一个预为中心的灯），关闭聚光镜孔径光阑和对齐聚光镜与显微镜光学轴明视场照明 （聚光镜塔设置为0或B的位置） 中。横膈膜把焦点对准，叠加上使用 10 x 物镜，突出重点标本和打开的虹膜叶子，直到只有一小部分的横膈膜是在人学视域的外围边缘可见。为每个正在使用的物镜采取类似的步骤，确保在显微镜配置正确，可以为每个物镜的柯勒照明反过来通过调整的领域和孔径的横膈膜。DIC 的日常观察期间，显微镜，应定期检查维持，以确保那柯勒照明。

检查物镜后方孔径-配置为科勒照明显微镜后, 插入的偏光片及分析仪和检查的物镜的后方焦平面与相位望远镜或贝特朗 · 镜头 （锥光观察模式）。如果正确定位的偏光片和分析仪和显微镜下完全对齐，一个黑暗的灭绝交叉将出现在物镜的孔径，如图 1 (a) 所示。手臂交叉灭绝的应该是光圈的光的面向垂直和水平，用少量出现在四个角 （图 1(a))。在交叉或高双折射的区域，这将影响完整性的交叉灭绝的紧张光学指标的亮点。此外，灰尘和林特颗粒附近 （聚光镜或物镜） 的共轭孔径焦平面的位置会显得明亮在物镜后方孔径下查看时。如果双折射点存在，请检查另一个无应变的物镜来确定是否紧张的第一物镜或透镜系统的聚光镜。从物镜或聚光镜透镜表面移除任何污染的尘埃和更换紧张的光学组件 （如果可能） 然后再进行下一步。

物镜DIC 棱镜对齐方式-通过要么插入滑块或棱镜的物镜棱镜局限于固定架 （用于利用 de Sénarmont 偏置迟缓的系统） 的安装。一旦棱镜是在位置，检查的物镜的后方焦平面再一次与相位望远镜或贝特朗 · 镜头。人学视域现在应该出现很亮，但没有特色，延伸，在 45 度角在孔径直径单暗干涉条纹 （见图 1(b)) 沿剪切轴。取决于是否在显微镜直立或倒置，干涉条纹将遍历物镜后方孔径在东北-西南 （直立） 或 （倒） 的西北-东南方向。在任一情况下，干涉条纹图 1 (b)，所示应明确界定，并定位在光圈的中心。

在一些 DIC 显微镜设计中，物镜的棱镜被固定的 （de Sénarmont 补偿），而在其他棱镜可以平移来来回回在的轴上光通过滑块框架中一个定位螺钉机制。在后者的情况下，慢慢的转动调节旋钮在观察物镜后的焦平面上通过望远镜或贝特朗 · 镜头时。旋钮是转身，干涉条纹应任一面上的移动改变了中央的立场或明亮的后方孔径的下半部分。或者，在 de Sénarmont 补偿器转动偏振器会产生相同的效果。

聚光镜 DIC 棱镜对齐-删除物镜棱镜光学坐在火车上，和摆动的Zui低的孔径聚光镜棱镜 (供使用，物镜是 10 x) 进入位置通过旋转的聚光镜塔。通常由塔 （或类似的代码，如L） 上的红色或白色10设置标记的适当位置。重新调整的阶段望远镜或贝特朗 · 镜头来观察的干涉条纹显示在物镜后方焦平面中。再一次，一个单一的边缘应存在有相同的边缘产生的物镜的棱镜 （东北-西南立式显微镜） 或倒置显微镜为西北-东南方向。为聚光镜和物镜棱镜干涉条纹应出现几乎完全相同，并且应该有相同的方向沿剪切轴。

为了清楚地观察使用为油浸泡而设计的高数值孔径聚光镜棱镜干涉条纹，它可能需要删除前透镜装配使用的摆动镜头控制杠杆。如果出现在物镜孔径的边缘位置不正确，它可能需要调整的方向或聚光镜棱镜的对齐方式。在大多数情况下，聚光镜棱镜是在缺口或 pin （或锁定螺钉），确保正确定位在聚光镜炮塔内防护圆铝架组装的。偶尔，聚光镜棱镜可以被迫没有正确对齐，将明显的干涉条纹审查时炮塔。如果聚光镜似乎没有对齐，请检查与显微镜制造商的说明进行适当的聚光镜 DIC 棱镜调整。

用显微镜标本观察-对齐为柯勒照明，偏振器和分析仪交叉，和两个棱镜 （物镜和聚光镜） 安装，将薄薄的透明登上的标本 （如口腔上皮细胞制备） 放在舞台上。调整为Zui大的物种灭绝，显微镜，在观察的过程通过目镜鲜明模式 （没有贝特朗的镜头或阶段望远镜） 时集中标本。人学视域中观察到的图像应该出现很暗灰色，几乎是黑色的在Zui大灭绝与明亮的高光区域有大幅定义厚度或折射率梯度 （例如，细胞的细胞膜和细胞核 ； 见图 2(b))）。球形试样的高折射率，如浸油滴，甚至可能作为极小的镜片，并出现清晰的干涉条纹或波段遍历面向同一方向边缘是当在物镜后方孔径中观察到的中部地区。

同时观察重点的标本图像，平移的物镜的 DIC 棱镜使用滑块旋钮或旋转偏光片 （或分析仪） 在显微镜下，装备为 de Sénarmont 补偿。这次行动被称为偏置迟缓的介绍，和将平移平分沿剪切轴试样的干涉条纹和产生相应的变化，对试样的外观。移向一个方向 (正偏压) 棱镜将减轻标本特征在一个边缘变暗相反边缘上相同的功能的同时，同时减轻背景 （见图相。一般情况下，试样假定伪三维外观带有阴影铸效果导向在剪切轴相同的方向。到另一边的显微镜光学轴 (负偏压) 移动棱镜将反向光与暗的标本地区 （比较图 2 (a) 与图 2(c))。

在所有 DIC 组件正确安装并对齐的大灭绝，物镜的后方孔径呈暗灰色 （几乎黑色） 和相对统一的时候观察阶段望远镜或贝特朗透镜 （图 1(c))。在大多数情况下，中部地区的后方光圈出现乌黑而一些证据表明，光出现在外围的四个象限。灭绝跨一般应出现非常类似于用交叉偏振片观察独自一人，但通常更深色和覆盖更大区域的物镜后方孔径。明亮的周边外围 （图 1(c)) 结果从通过光在表面的偏振镜和镜头中的聚光镜和物镜元素的局部去极化而产生的工件。

微分干涉对比图像可以显著改善由明亮的区域在灭绝的边缘交叉在物镜后方孔径的掩蔽。这被通过减少大小的聚光镜孔径光阑来消除的明亮的边缘。一般情况下，物镜的后方孔径大小应与横膈膜减少到大约 75%或 80%的全口径。时的光学系统是在完美的路线，交叉的灭绝会出现直立 (见图 1） 和可以观察到由组成，两个广泛的干涉条纹，每个形状在正确的角度和会议中心的物镜的后方孔径 （边缘可以也可视化中较低的质量显微镜正模式）。对一些显微镜，可以调整的聚光镜和物镜棱镜的位置，以产量更均匀的条纹，导致在中部地区的出现更黑暗、 更均匀的孔径。这项任务完成对松动和旋转 （或提高或降低) 聚光镜棱镜或由交叠起偏振器和分析仪由一对夫妇的度。偶尔显微镜包含允许调整的聚光镜和物镜的棱镜的固定螺丝，但如此装备的型号越来越少。作为显微镜对准Zui后检查，同时审查中物镜的后方孔径，以确定是否它可以改进的灭绝模式调整聚光镜聚焦旋钮。请注意重大的重新定位的聚光镜可能会降低光学性能通过分离的物镜和聚光镜的 DIC 棱镜共轭干扰飞机之间的重叠。

平移的物镜的棱镜，或旋转偏光器，在 de Sénarmont 配置中，通过调整偏置发育迟滞大大提高图像外观 （以上，观察到在Zui大灭绝），增加对比度。这个动作是成像中微分干涉对比试样的必要条件，表示调整的显微镜光学火车的Zui后一步。在许多情况下，光的出现渐变跨整个视野的视图时观察 DIC 的图像。发生这种情况除了浅色和深色强度，并在试样的相对边缘的存在和广泛和隐隐绰绰场条纹神器制作的光学系统。显微镜具有匹配良好的光学元件Zui大限度的视野条纹，可以变得如此广泛、 分布均匀的整个领域出现均匀的中等灰度颜色大小。在大多数情况下，然而，仍然是一些边缘的证据，和人学视域陈列的光强度 （中等至亮或暗灰色底纹的） 从一个外围边缘到另一个浅梯度。此工件是固有的一个特定的光学配置，应观察和收集的 DIC 标本图像时将忽略。

补偿器在 DIC 显微镜

试样的对比也可以增加通过引入迟缓板 （或补偿） 入在 DIC 显微镜的光学通路。一般情况下，全波（也称为一阶补偿器） 板插入中间管之间的物镜的棱镜和信号分析仪，虽然偏光片之后但在聚光镜棱镜之前，也可以位于板。这些板块陈列在绿色区域 （通常近 550 毫微米），指定的值在整个波长迟缓程度，导致显示黄色和蓝色的牛顿干涉色沿的折射率和厚度梯度的标本。背景被呈现洋红色由于减法的绿色波长从白色的光。

在 de Sénarmont 或标准 （译） 得无以复加棱镜 DIC 显微镜配置中，当物镜棱镜定位时，消光干涉条纹在中心的光通路，模式相似，显示在图 1 (b) 被观察到物镜的后焦平面上 （前提是聚光镜棱镜从光路中删除）。如果全波发育迟滞板然后放置之间的物镜的棱镜和信号分析仪，干扰中说明的模式图 3 (a)，其中显示了频谱的牛顿干涉色，将出现在物镜后方焦平面。从光路中删除物镜棱镜和插入一个聚光镜棱镜收益率提出了一种在图 3 (c) 的模式。物镜和聚光镜棱镜存在并在光学列车调整到灭绝的位置，洋红色的颜色时，可见在物镜后焦面 （图 3(b))。

平移的物镜得无以复加棱镜或旋转偏光器，de Sénarmont 补偿器配置中的将转移牛顿干涉图案颜色图 3 (b) 所示。引入负偏压将转向牛顿颜色消减值 （黄色），而将棱镜转移到正面偏置值会导致添加剂颜色 （蓝色）。生产的标本渐变的颜色可以为确定规模的光学路径差异相比 Michel 征费参考图表。